一.測試背景

據客戶反映，其鴿環產品在-20℃下靈敏度降低，影響讀取。現送1PCS不良品和5PCS其他批次的正常樣品進行失效分析，以期找出失效原因。

二.測試方案

1、外觀檢查：確認產品外觀有無不良

2、規格參數確認：根據讀卡器顯示信息及規格書確認樣品內部芯片型號

3、切片分析：觀察芯片內部構造

4、形貌分析：確認芯片內部導電粒子分布情況和分布狀態

5、結論

三.測試結果

3.1外觀檢查：                   

3.2規格參數確認：

3.3靈敏度測試：

黑色不良品鴿環：

紅色鴿環：

由于黑色鴿環從鴿腳取下來時被剪斷，RFID卷標天線受到破壞，無法測試靈敏度。將5pcs紅色鴿環放入冰箱冷凍室冷凍，然后進行靈敏度測試。測試結果未發現異常。 

3.4切片分析

對黑色不良品鴿環進行切片分析：

對紅色正常鴿環進行切片分析：

1#紅色鴿環

2#紅色鴿環

從金相圖片中可以看出，黑色不良品和紅色良品由于批次不一樣，內部構造存在差異。不良品單純通過ACF膠導電粒子連通的方式，而良品則通過芯片兩側凸點壓迫導電粒子，增大連接面積的方式進行連通。由于內部構造不同，良品的有效接觸區域大于不良品；此外，良品導電粒子的受力明顯高于不良品。

3.5形貌分析

黑色不良品鴿環：

紅色方框區域內圓形顆粒物為導電粒子。

導電粒子實際的有效接觸區域如上圖所示，在一個切片觀察范圍內的接觸 （導通）長度約為8μm， 接觸（導通）比例約為2.3%。

1#紅色鴿環

導電粒子有效接觸區域

在一個切片觀察范圍內（放大5000倍），1#紅色鴿環導電粒子實際有效接觸區域如上圖所示，接觸（導通）長度約為92μm。

2#紅色鴿環

導電粒子有效接觸區域

在一個切片觀察范圍內（放大5000倍），2#紅色鴿環導電粒子實際的有效接觸區域如上圖所示，接觸（導通）長度約為40μm。

四.總結

黑色不良品鴿環和紅色良品鴿環在結構上存在顯著差異，不良品單純通過ACF膠導電粒子連通的方式，而良品則通過芯片兩側凸點壓迫導電粒子，增大連接面積的方式進行連通。從SEM的測量結果也可以直接看出，良品的有效導通區域明顯高于不良品，因此良品的實際使用效果更好。

建議：在后續的選擇上，更傾向于良品這種導電粒子所受壓力較大的結構。