【引言】 納米粒子和溶劑之間的相互作用，對于形成復亞穩態納米結構非常重要。但是采用傳統的液體電池透射電子顯微鏡（TEM），直接觀察是非常困難的。那么如何才能觀察到納米粒

2018/06/11 更新 分類：科研開發 分享

近年來納米材料領域應用的高端透射電鏡技術，并通過實例了解這些高端透射電鏡技術是如何助力納米材料發展的，主要包括高分辨透射技術、原位電鏡技術、低溫冷凍電鏡、球差電鏡。

2021/03/29 更新 分類：科研開發 分享

透射電鏡用載網及載網膜有不同的種類，使用時需要根據樣品及觀察目的選擇合適的載網膜，才能有效地觀察到樣品的結構。

2024/06/14 更新 分類：科研開發 分享

　TEM作為一種常用的微觀結構表征技術已經在材料科學、生物等學科被廣泛應用，而作為材料人的你又怎能不對TEM做深入的了解。今天來我們一起來看看如何搞定TEM透射電鏡衍射斑點標定

2019/09/12 更新 分類：科研開發 分享

本文將對透射電鏡常見的各種制樣方法進行介紹與對比。

2023/06/26 更新 分類：科研開發 分享

本文通過舉例介紹不同粒徑大小的納米氧化硅顆粒的合成，并展示透射電鏡TEM對納米顆粒進行分析表征 結果。

2019/09/23 更新 分類：檢測案例 分享

低溫電子顯微技術(CRYO-ELECTRON MICROSCOPY)的出來，引爆了揭示細胞內隱秘機制的革命，X射線晶體衍射技術(X-RAY CRYSTALLOGRAPHY)即將成為歷史。 劍橋大學地下室 一場技術革命正在醞釀。 一個

2015/10/22 更新 分類：其他 分享

研究人員對FIB-SEM 制備TEM試樣的常規方法進行了改進，成功制備出微柱變形試樣的TEM試樣，研究結果可為微柱及凹坑內試樣的TEM試樣制備提供技術參考。

2024/11/28 更新 分類：科研開發 分享

原位透射電子顯微學（in-situ TEM）是指直接在原子層次觀察樣品在力、熱、電、磁作用下以及化學反應過程中的微結構演化及進行表征的過程，近年來成為材料研究的熱門領域。

2019/04/16 更新 分類：實驗管理 分享

雙束聚焦離子束-掃描電鏡技術（Duel Beam Focused Ion Beam,FIB）具有諸多高端優勢和較強的應用能力，是新材料開發中高分辨率表征的重要方法。常用的應用之一是制備透射電鏡（TEM）樣品。

2023/01/12 更新 分類：科研開發 分享