本文提供了雜化鹵化鉛鈣鈦礦原子層次的理解，揭示了其性能卓越背后的機理。鈣鈦礦結構對有機陽離子損失的高度適應性使部分降解材料具有特殊的再生性能。這種原子局部化的信息，使得有針對性的設計方法來消除缺陷和優化這些材料的界面。

2020/11/01 更新 分類：科研開發 分享

雙光子顯微鏡（Two-photon microscope，TPM）作為一種基于非線性光學效應的高分辨率三維成像技術，近年來在化妝品功效評價領域展現出顯著的應用潛力。

2025/04/29 更新 分類：科研開發 分享

高分辨透射電鏡（HRTEM）粉末樣品要求、送樣品前的準備工作、粉末樣品的制備、塊狀樣品制備

2019/09/06 更新 分類：實驗管理 分享

黃曉旭團隊經過十多年的不懈努力，在國家重點研發計劃等項目的支持下，成功開發了一系列基于電子衍射的三維透射電鏡技術，空間分辨率1nm。

2023/12/04 更新 分類：科研開發 分享

AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環境下對各種材料和樣品進行納米區域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。它的的原理較為簡單，它是用微小探針“摸索”樣品表面來獲得信息

2019/09/16 更新 分類：科研開發 分享

AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環境下對各種材料和樣品進行納米區域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。AFM制樣時，對樣品導電與否沒有要求，因此測量范圍比較廣泛。

2019/09/16 更新 分類：科研開發 分享

近期，中國科學院金屬研究所沈陽材料科學國家研究中心先進炭材料研究部研究人員與日本國立材料科學研究所湯代明研究員、韓國蔚山國立科技大學丁峰教授等團隊合作，采用封閉腔體環境透射電子顯微鏡，在原子尺度上原位研究了Co-W-C合金催化劑在常壓條件下生長碳納米管的過程，確定其催化活性相為立方晶系η-碳化物單相，觀察到了合金催化劑納米顆粒的相對轉動，發現了

2022/12/14 更新 分類：科研開發 分享

誕生了國際三大無鹵標準：日本電子電路工業會(Electronics Packaging and Circuits Association)的JPCA-ES-01-2003、國際電工委員會(International Electrotechnical Commission)的IEC 61249-2-21和美國電子工業聯接協會(Interconnecting and Packaging Electronic Circuits)的IPC 4101B。

2016/05/18 更新 分類：法規標準 分享

TEM、SEM測試常見問題匯總。

2022/09/04 更新 分類：科研開發 分享

本文介紹了TEM制樣常見的7個問題。

2022/09/13 更新 分類：實驗管理 分享