ESD測(cè)試過(guò)程中，有時(shí)時(shí)候會(huì)遇到EUT擺放方式對(duì)靜電放電測(cè)試結(jié)果影響很大的情況，相信肯定有部分伙伴遇到過(guò)，今天我們就來(lái)分析其原理。

1、橫豎擺放方式的影響

電動(dòng)牙刷、電動(dòng)潔牙器使用場(chǎng)景是浮空，其ESD測(cè)試時(shí)可以選擇橫向平行桌面擺放，也可以選擇豎立擺放于桌面擺放。對(duì)于有些產(chǎn)品測(cè)試工程師發(fā)現(xiàn)在樣品豎立擺放時(shí)ESD的測(cè)試結(jié)果是Fail的，不符合標(biāo)準(zhǔn)要求；而樣品橫向擺放時(shí)ESD測(cè)試結(jié)果是PASS的，符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求。

筆記本電腦、平板電腦、智慧平板產(chǎn)品使用的電容筆、觸摸筆產(chǎn)品獨(dú)立進(jìn)行靜電放電測(cè)試時(shí)，也經(jīng)常發(fā)現(xiàn)橫向放置與豎立擺放時(shí)，測(cè)試結(jié)果差異巨大。

樣品擺放方式測(cè)試結(jié)果差異的原因是：樣品豎立擺放時(shí)，測(cè)試樣品與靜電放電測(cè)試桌上金屬板之間的寄生電容（分布電容）較小，高頻靜電電流流過(guò)時(shí)產(chǎn)生的阻抗較大，靜電電流無(wú)法快速有效泄放，靜電電流流進(jìn)敏感電路、敏感器件造成工作狀態(tài)異常或損壞。

產(chǎn)品豎立擺放時(shí)分布電容圖示

而樣品橫向平放于靜電放電測(cè)試桌時(shí)，樣品與靜電放電測(cè)試桌金屬板之間的分布電容（寄生電容）較大，高頻下的阻抗較小，靜電電流可以通過(guò)此路徑快速的泄放，靜電電流流入敏感電路、敏感器件較少，則不會(huì)影響電路或器件的正常工作。    

產(chǎn)品平放置于靜電放電測(cè)試桌面

2、正反面放置的影響分析     

純塑膠外殼的數(shù)字視頻盒、網(wǎng)絡(luò)機(jī)頂盒、等類似產(chǎn)品，在靜電放電測(cè)試過(guò)程中發(fā)現(xiàn)，將樣品正面放置于靜電放電測(cè)試桌上時(shí)，測(cè)試結(jié)果符合判定要求，順利通過(guò)；將樣品反過(guò)來(lái)放置于靜電放電測(cè)試桌時(shí)，靜電放電測(cè)試結(jié)果不符合判定要求，結(jié)論為Fail。    

樣品正面放置于靜電放電測(cè)試桌時(shí)，靜電電流從測(cè)試點(diǎn)注入進(jìn)入電路板參考地平面，板卡參考地平面靠近靜電測(cè)試桌金屬平面時(shí)，兩者之間形成的寄生電容為靜電電流的泄放提供了低阻抗路徑。

樣品正面放置于靜電放電測(cè)試桌時(shí)分布電容圖示

靜電放電電流從寄生電容形成的低阻抗路徑快速泄放，而流入敏感電路、敏感元件的靜電電流較，對(duì)敏感電路的沖擊較小電路工作狀態(tài)不受任何影響。    

產(chǎn)品反面放置于靜電桌時(shí)靜電電流泄放路徑圖

樣品反向放置于靜電放電測(cè)試桌時(shí)，靜電電流從測(cè)試點(diǎn)注入進(jìn)入電路板參考地平面，板卡參考地平面遠(yuǎn)離靜電測(cè)試桌的金屬平面時(shí)，兩者之間形成的寄生電容較小，靜電放電電流泄放路徑中的阻抗相對(duì)較大，靜電電流無(wú)法快速泄放，靜電電荷在電路板參考地平面上積累產(chǎn)生電場(chǎng)輻射。

電路板上敏感電路、敏感元件、敏感信號(hào)布線靠近參考平面時(shí)，產(chǎn)生電場(chǎng)耦合。電路板參考平面與靜電放電測(cè)試桌金屬板之間存在電場(chǎng)干擾，置身于電場(chǎng)中的敏感信號(hào)、敏感元件、敏感布線本身也容易感應(yīng)電場(chǎng)干擾。

【案例總結(jié)】

EUT擺放方式影響的是EUT與參考地平面的之間分布電容，分布電容是高頻電流泄放的隱形路徑，為高頻噪聲提供低阻抗泄放路徑。寄生電容在高頻噪聲的通斷中扮演重要角色，給EMC的分析帶來(lái)很大挑戰(zhàn)，設(shè)計(jì)師們應(yīng)給予關(guān)注。