什么是加速試驗(yàn)？

加速試驗(yàn)是指在保證不改變產(chǎn)品失效機(jī)理的前提下，通過(guò)強(qiáng)化試驗(yàn)條件，使受試產(chǎn)品加速失效，以便在較短時(shí)間內(nèi)獲得必要信息，來(lái)評(píng)估產(chǎn)品在正常條件下的可靠性或壽命指標(biāo)，通過(guò)加速試驗(yàn)，可迅速查明產(chǎn)品的失效原因。HAST和HALT&HASS都屬于加速試驗(yàn)。

失效率曲線：指產(chǎn)品從投入到報(bào)廢為止的整個(gè)壽命周期內(nèi)，其可靠性的變化呈現(xiàn)一定的規(guī)律。

雖然HAST和HALT&HASS都同為加速試驗(yàn)，但是它們之間卻存在差異，為找出產(chǎn)品的失效原因扮演著不同的角色，尤其是HAST和HASS試驗(yàn)，這兩者之間的名字十分相似，只差了一個(gè)字母，很容易被混淆，為了幫助各位更好的了解HAST和HASS各自的試驗(yàn)內(nèi)容，接下來(lái)我們就來(lái)談?wù)勥@兩者的區(qū)別。

HAST和HASS測(cè)試的概念

什么是HAST測(cè)試？

高度加速的溫度和濕度壓力測(cè)試(HAST)是一個(gè)高度加速，以溫度和濕度為基礎(chǔ)的電子元件可靠性試驗(yàn)方法。隨著進(jìn)來(lái)電子技術(shù)的高速發(fā)展，幾年前剛剛出現(xiàn)的加速試驗(yàn)可能不再適應(yīng)當(dāng)今的技術(shù)了，尤其是那些專門針對(duì)微電子產(chǎn)品的加速試驗(yàn)。例如，由于塑料集成電路包的發(fā)展，現(xiàn)在用傳統(tǒng)的、普遍被接受的85℃/85%RH的溫度/濕度試驗(yàn)需要花上千小時(shí)才能檢測(cè)出新式集成電路的失效。在大多數(shù)情況下，試驗(yàn)樣本在整個(gè)試驗(yàn)中不發(fā)生任何失效。因此，需要進(jìn)一步改進(jìn)加速試驗(yàn)HAST就是為代替老的溫度/濕度試驗(yàn)而開發(fā)的方法。

什么是HASS測(cè)試？

高加速應(yīng)力篩選試驗(yàn)(HASS)是加速環(huán)境應(yīng)力篩選的一種形式。它代表了產(chǎn)品所經(jīng)歷的最嚴(yán)酷的環(huán)境，但通常持續(xù)很有限的一段時(shí)間。HASS是為達(dá)到“技術(shù)的根本極限”而設(shè)計(jì)的。此時(shí)應(yīng)力的微小增加就會(huì)導(dǎo)致失效數(shù)的大量增加。這種根本極限的一個(gè)例子是塑料的軟化點(diǎn)。

講完這兩者的基本概念，我們接下來(lái)可以開始分析它們之間究竟有什么區(qū)別了。

HAST和HASS測(cè)試的區(qū)別

1.兩者性質(zhì)不同

HASS是一個(gè)篩選工具，而HAST是為了代替老的85℃/85%RH試驗(yàn)而開發(fā)的新試驗(yàn)方法。

HASS與其說(shuō)是可靠性試驗(yàn)，其實(shí)更像是幫助研發(fā)在產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，通過(guò)設(shè)置高于產(chǎn)品設(shè)計(jì)運(yùn)行極限的環(huán)境應(yīng)力，來(lái)篩選發(fā)現(xiàn)零部件和組裝中存在的缺陷并實(shí)施必要的改進(jìn)措施，實(shí)現(xiàn)剔除有缺陷的部件或元器件的工具。而HAST則是傳統(tǒng)的高溫/高濕度測(cè)試(85℃/85%RH)的升級(jí)版，可以更加快速的，并且用更嚴(yán)峻惡劣的環(huán)境模擬使?jié)撛诘娜毕莼蛘咴O(shè)計(jì)薄弱環(huán)節(jié)發(fā)展為實(shí)際的失效，確認(rèn)可能導(dǎo)致使用中失效的設(shè)計(jì)、分配或者制造過(guò)程問(wèn)題。

2.兩者適用的受測(cè)物不同

HAST的加速方法只適用于零件級(jí)的試驗(yàn)；HASS的加速方法只適用于設(shè)備級(jí)的試驗(yàn)。通過(guò)下表，可以看出零件級(jí)和設(shè)備級(jí)的區(qū)別和局限：