本次分享的案例中主要關注引線框架表面的氧化狀態。

2023/06/07 更新 分類：檢測案例 分享

聚焦離子束技術（Focused Ion beam，FIB）是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表面，實現材料的剝離、沉積、注入、切割和改性。

2023/09/13 更新 分類：科研開發 分享

SEM掃描電鏡知識點掃盲

2019/03/28 更新 分類：實驗管理 分享

掃描電子顯微鏡（SEM）之樣品制備

2017/09/25 更新 分類：熱點事件 分享

掃描電鏡主要由七大系統組成，即電子光學系統、信號探測處理和顯示系統、圖像記錄系統、樣品室、真空系統、冷卻循環水系統、電源供給系統。

2019/09/11 更新 分類：科研開發 分享

如果要分析材料微區成分元素種類與含量，往往有多種方法，打能譜就是我們最常用的手段。

2023/03/03 更新 分類：科研開發 分享

原子序數越大，圖像越亮。二次電子受原子序數的影響較小。高分子中各組分之間的平均原子序數差別不大；所以只有—些特殊的高分子多相體系才能利用這種襯度成像。

2018/06/06 更新 分類：科研開發 分享

在大多數情況下，通過單個圖像即可輕松獲得樣品形貌，實現測試樣品微觀結構的可視化。本文簡要介紹了SEM技術發展，并且以納米材料為例介紹了SEM在其測試中的應用。

2020/09/22 更新 分類：科研開發 分享

透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)測試常見的20個問題

2016/07/25 更新 分類：實驗管理 分享

掃描電鏡和透射電鏡的區別

2020/07/20 更新 分類：實驗管理 分享