本文介紹了MOSFET失效原因及對策。

2025/04/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文主要介紹了MOSFET 的選型基礎及MOSFET應用案例解析。

2022/04/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了功率 MOSFET及如何避免MOSFET常見問題和失效模式。

2023/05/30 更新 分類：科研開發(fā) 分享

晶體振蕩器的輸出頻率直接影響數(shù)據(jù)傳輸同步、信號采樣精度以及系統(tǒng)穩(wěn)定性。然而，頻率精度并非僅由晶體本身的品質決定，電路中的負載電容同樣起著決定性作用。

2025/08/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享

當晶體管還是平面結構時，金屬間距仍然是一個非常重要的測量值，它指的是集成電路的一個特定尺寸。然而隨著發(fā)展，在新的 3D 架構下，金屬間距已不再重要，因為像 5 納米或 3 納米這樣的半導體邏輯節(jié)點不再指代金屬間距的一半。

2025/08/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文主要介紹了固定式智能開關自整流負載設計注意事項

2022/03/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文主要介紹了三極管和MOSFET器件選型原則及關鍵要素。

2021/08/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文總結了MOSFET器件選型的10步法則

2022/04/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了SiC襯底和外延材料對MOSFET器件特性的影響。

2024/03/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文分析了超結MOSFET EMC問題產生原因。

2025/02/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享