本次分享的案例中主要關注引線框架表面的氧化狀態。

2023/06/07 更新 分類：檢測案例 分享

聚焦離子束技術（Focused Ion beam，FIB）是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表面，實現材料的剝離、沉積、注入、切割和改性。

2023/09/13 更新 分類：科研開發 分享

本文將詳細介紹掃描電子顯微鏡的工作原理、結構組成、技術優勢及其在科研和工業中的應用。

2024/09/25 更新 分類：科研開發 分享

研究人員對JSM 6360型掃描電鏡近幾年出現的幾類典型故障及排除方法進行了詳細分析和描述，以供同行交流。

2024/10/25 更新 分類：科研開發 分享

SEM掃描電鏡知識點掃盲

2019/03/28 更新 分類：實驗管理 分享

掃描電子顯微鏡（SEM）之樣品制備

2017/09/25 更新 分類：熱點事件 分享

原子序數越大，圖像越亮。二次電子受原子序數的影響較小。高分子中各組分之間的平均原子序數差別不大；所以只有—些特殊的高分子多相體系才能利用這種襯度成像。

2018/06/06 更新 分類：科研開發 分享

掃描電鏡主要由七大系統組成，即電子光學系統、信號探測處理和顯示系統、圖像記錄系統、樣品室、真空系統、冷卻循環水系統、電源供給系統。

2019/09/11 更新 分類：科研開發 分享

在大多數情況下，通過單個圖像即可輕松獲得樣品形貌，實現測試樣品微觀結構的可視化。本文簡要介紹了SEM技術發展，并且以納米材料為例介紹了SEM在其測試中的應用。

2020/09/22 更新 分類：科研開發 分享

如果要分析材料微區成分元素種類與含量，往往有多種方法，打能譜就是我們最常用的手段。

2023/03/03 更新 分類：科研開發 分享