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嘉峪檢測網 2016-12-23 10:51
某款PCBA上連接器在SMT后,部分引腳存在上錫不良現象。本文通過表面分析、切片分析、熱變形分析、模擬試驗等測試分析手段查找失效原因。結果表明,導致引腳上錫不良的原因為:(1)在焊接過程中,部分引腳存在較大熱變形,導致引腳存在共面性問題,致使引腳不上錫形成虛焊;(2)焊接過程中,引腳溫度偏低,致使焊接熱輸入不足,影響引腳潤濕性能。
1 案例背景
送檢樣品為某款PCBA板,該PCBA上一連接器在經過SMT后發現部分引腳上錫不良,失效率不穩定;該連接器每側有50個引腳,引腳材質為銅表面鍍鎳鍍錫,PCB焊盤表面為OSP工藝,錫膏成分為SAC305。
2 分析方法簡述
2.1 外觀檢查
通過外觀觀察,失效樣品部分引腳確實存在上錫不良現象,且失效引腳位置在連接器上分布不規律,但失效樣品主要集中在連接器中間區域,兩端引腳上錫相對較好,典型照片見圖1。正常樣品表現為兩端上錫飽滿,中間區域引腳上錫不飽滿,典型照片見圖2,該現象說明上錫不良可能與位置相關。
圖1 失效樣品的顯微放大圖
圖2 正常樣品的顯微放大圖
2.2 表面分析
通過機械方式將失效區域NG引腳進行剝離,發現其引腳剝離力較小,說明連接器引腳與焊盤為假焊。剝離后,發現焊盤焊料表面及引腳底部存在較多異物,焊料在焊盤上圓滑光亮,潤濕良好,引腳底部未發現明顯焊料,如圖2所示。通過對異物進行FTIR成分分析,主要檢測到羧酸結構類物質,說明該異物應為助焊劑,見圖3。助焊劑大量殘留說明可能存在爐溫問題,例如預熱時間過短、峰值溫度偏低等情況。
圖3 NG焊點剝離后外觀圖片
圖4 異物紅外圖譜
2.3 切片分析
通過對NG焊點和OK焊點分別進行橫向及縱向切片分析,觀察焊點的界面連接情況。
由圖5和7所示,通過對NG焊點的橫縱向切片分析可知,連接器引腳與焊料之間存在分層,且之間存在異物,結合剝離分析結果,中間異物應為助焊劑殘留。通常導致焊點分層的主要原因有三點:(1)連接器引腳可焊性較差;(2)連接器引腳共面性存在問題;(3)爐溫設置不當,具體原因需要后續進一步驗證。
如圖6和8所示,通過對OK焊點的橫縱向切片進行觀察,引腳與焊料雖然形成良好的IMC層,但引腳的整體上錫性能一般。
圖5 NG焊點縱向切片圖片
圖6 OK焊點縱向切片圖片
圖7 NG焊點橫向切片圖片
圖8 OK焊點橫向切片圖片
2.4 可焊性驗證試驗
2.5 引腳過爐時熱變形測試
2.6 模擬試驗
3 分析與討論
通過引腳剝離測試及切片分析可知,失效焊點中引腳與焊料存在分層,且分層中間存在大量的助焊劑殘留,但焊料在焊盤端潤濕性很好,且在焊盤表面呈光滑圓潤狀。通常導致焊點分層的主要原因有三點:①連接器引腳可焊性較差;②連接器引腳共面性存在問題;③爐溫設置不當。
可焊性測試結果表明,連接器引腳可焊性不存在問題。根據對引腳在過爐過程中的變形量測試結果可知,個別連接器個別位置引腳在220℃或峰值溫度時,會發生較大變形,使引腳在焊接過程中存在共面性問題,導致個別引腳與焊料未接觸上,致使引腳上錫不良。
對SMT爐溫進行確認,通過模擬焊接時爐溫曲線和鏈速,對PCBA上連接器焊點及其他元器件焊點溫度進行實時監控,發現連接器上焊點峰值溫度為234℃,相比其他元器件焊點低8℃;對連接器上中間位置和邊緣位置進行實時監控,邊緣焊點峰值溫度為235℃,中間區域焊點峰值溫度為230℃,中間區域峰值溫度明顯偏低。通過降低鏈速后,焊點的峰值溫度會升高,焊接區時間也會相應的增加,連接器中間位置的焊點焊接質量得到改善,說明爐溫對焊接質量存在一定影響。
4 結論
連接器上錫不良的主要表現為引腳下表面與焊點分離,導致此失效的原因有兩方面:①過爐過程中引腳存在熱變形;②過爐過程中連接器引腳溫度不夠,影響潤濕性能。
5 建議
(1) 增加連接器中間區域的錫膏印刷厚度;
(2) 優化焊接爐溫曲線和鏈速。
來源:美信檢測