一、產品概述

該產品為全金屬結構，內分為兩個腔體，其中一腔體需要做成完全封閉式腔體，腔體內為主控芯片板和一些主要功能部件，另一腔體內為連接外部設備的轉接小板，小板僅有兩個接口：DC5V 外接電源接口和數據傳輸的USB 接口。經過輻射測試發現有24MHz 倍頻雜訊輻射問題。

 二、整改分析

（一）電路分析

此產品整個電路中，有一個典型的時鐘晶振電路；其工作頻率就是24MHz,經分析發現其主要的干擾源就是該晶振。

（二） 數據分析

從測試數據的結果來看，超標頻點全都是 24MHz的倍頻，干擾能量主要是晶振頻點的倍頻，且能量很高，超標點比較多。要解決問題需要，從晶振電路的輻 射路徑進行 EMC控制。

（三） 干擾分析

該產品外殼結構屏蔽良好，搭接處經過打磨、導電泡棉處理，但是測試超標點 改善有限，整機測試只有電源線和 USB 線引出箱體，懷疑 干擾頻點是由電源線和 USB 線輻射出來的，故分別作了一下幾步測試：

1、僅在電源線上加磁環，測試結果：改善不明顯；

2、僅在 USB 線上加磁環，測試結果：改善仍然不明顯； 

3、在 USB 線和電源都加磁環，測試結果：改善較明顯干擾頻點整體有所下降。

從上可得，干擾頻點是兩個接口帶出來的，并非電源接口或USB接口的問 題，而是內部干擾頻點 耦合到這兩個接口所導致的，僅屏蔽某一不能解決問題。

經過近場量測發現，干擾頻點來自封閉腔體內，雜訊通接口轉接小板與封閉腔體 內主板相連的 USB 排線和制冷片電源耦合出來，導致整個轉接小板上到處都有干  擾頻點雜訊。尤其是制冷片電源線耦合的最嚴重，通過觀察發現主板上有一 24MHz晶振下方正好是制冷片的電源線，且電源比較長，而 USB 線距離晶振稍遠 一些，且比較短。

三、整改對策

1、制冷片電 源線要短一些，且使用銅箔將腔體內制冷片電包覆起來并與金屬 體相連接地。

2、USB 排線也需要進行屏蔽接地處理； US B接口金屬外殼需要與樣機的相連， 建議再 USB 金屬接口上設計彈片。 

3、在制冷片正負電源線與轉接小板相連處各加一多孔珠進行濾波理。

外接的 USB 線屏蔽效果需要良好。（一般的屏蔽效果好的USB線要求，外層屏蔽編織網的編織率到達 85% 以 上，且編織網兩端要進行較好的接地處理。）

四：案例總結

經過相應的整改 和改版設計，產品最終測試數據如下：

結案小結 ：

晶振時鐘頻率高，干擾諧波能量強； 諧波 干擾 除了從其輸入與出傳導來，還會從空間輻射出來，若有未屏蔽的 還會從空間輻射出來，若有未屏蔽的 還會從空間輻射出來，若有未屏蔽的 還會從空間輻射出來，若有未屏蔽的  其他信號 傳輸線在 晶振電路 附近 經過，就會使 干擾能量耦合到傳輸線上，直接由 傳輸線帶出來。

對于這類從空間耦合所導致 傳輸線帶出干擾問題 ，最好的方式就是找到輻射源頭和輻射的路徑，再通過結構 屏蔽和電路濾波解決問題。