固態(tài)物質(zhì)由于內(nèi)部的分子排列規(guī)律不同可分為晶態(tài)（晶體或稱結(jié)晶體）和非晶態(tài)（無定型）兩大類。固態(tài)物質(zhì)的 結(jié)晶性檢查可采用下列方法。

 第一法（偏光顯微鏡法）

 晶體具有光學(xué)各向異性的基本特征，即當(dāng)光線通過晶體時(shí)會(huì)發(fā)生雙折射現(xiàn) 象。利用晶體對(duì)光的基本特性可實(shí)現(xiàn)固態(tài)物質(zhì)的結(jié)晶性檢查。 

取適量供試品顆粒，置載玻片上，加液狀石蠟適量使供試品顆粒浸沒 其中，在偏光顯微鏡下檢視，當(dāng)轉(zhuǎn)動(dòng)載物臺(tái)時(shí)，應(yīng)呈現(xiàn)雙折射和消光位等各品 種項(xiàng)下規(guī)定的晶體光學(xué)性質(zhì)。 

第二法（粉末 X 射線衍射法） 

當(dāng) X 射線照射到供試品上，晶態(tài)物質(zhì)應(yīng)呈現(xiàn)特征的衍射圖（尖銳的 衍射峰），而非晶態(tài)的衍射圖則呈彌散狀。

 對(duì)于相同化合物的不同晶型固體物質(zhì)狀態(tài)亦可采用該方法進(jìn)行晶型種類鑒 別。

測定方法見 X 射線衍射法（通則 0451）。

 第三法（差示掃描量熱法）

 差示掃描量熱法可實(shí)現(xiàn)對(duì)晶態(tài)物質(zhì)的尖銳狀吸熱峰或非晶態(tài)物質(zhì)的彌散狀 （或無吸熱峰）特征進(jìn)行結(jié)晶性檢查。 當(dāng)相同化合物的不同晶型固體物質(zhì)狀態(tài)吸熱峰位置存在差異時(shí)，亦可采用 該方法進(jìn)行晶型種類鑒別。 測定方法見熱分析法（通則 0661）。