一、超聲波探傷校準重要性

在超聲波探傷過程中，聲速和探頭零點的校準至關重要。

這是因為探傷時所依賴的各種參數計算，如狀態行所顯示，都與聲速和探頭零點緊密相關。

未經校準的參數可能導致波形顯示不準確，進而影響對缺陷的判斷和評價。

▍ 聲速與探頭零點校準

校準聲速和探頭零點是確保探傷準確的基礎，

這些參數直接影響缺陷判斷。

▍ 聲程校準

保證聲程范圍正確顯示是探傷過程中準確信息獲取的關鍵。

聲程校準也是必不可少的環節，它確保屏幕上能夠適當顯示出聲程范圍內的波形，從而為探傷人員提供準確的信息，助力他們做出正確的決策。

二、直探頭校準

在超聲波探傷過程中，直探頭的校準是關鍵步驟之一。

根據已知的聲速和探頭零點情況，我們需要明確校準的具體操作。

如果聲速是未知的，那么首要任務是進行聲速的校準；而一旦聲速已知，我們就可以跳過聲速校準環節，直接在已知聲速的基礎上，利用一點法來進行探頭零點的校準。

▍ 已知聲速校準步驟

在已知材料聲速時，可以采用以下校準步驟：

將材料聲速設置為已知值。將探頭與校準試塊進行耦合。

設定閘門邏輯為單閘門模式，可以選擇進波報警或失波報警邏輯，并確保閘門能夠套住一次回波。

在此狀態下，聲程測量值即為一次回波處的聲程。

調整探頭零點，直至狀態行顯示的聲程測量值(S)與試塊的已知厚度相一致。此時所得到的探頭零點即為該探頭的精確零點。

▍ 未知聲速校準步驟

在未知材料聲速時，校準步驟較為復雜：

初步設定一個近似的聲速值。

將閘門邏輯調整為雙閘門模式。

將探頭與一個厚度已知且材質與被測材料相同的試塊進行耦合。

移動閘門A的起始點，使其與一次回波相交，并適當調節閘門A的高度，使其低于一次回波的最高幅值，同時確保閘門A不與二次回波相交。

同樣地，移動閘門B的起始點，使其與二次回波相交，并調節閘門B的高度，使其低于二次回波的最高幅值，同時保證閘門B不與一次回波相交。

調整聲速，直至狀態行顯示的聲程測量值與試塊的實際厚度相吻合。此時所得到的聲速即為該探傷條件下的精確聲速值。

將閘門邏輯重新設定為單閘門方式，測量一次回波處的聲程，并連續調整探頭零點，直至該處測得的聲程值也為50mm，這樣便確定了探頭零點為0.125us。

三、雙晶探頭校準

▍ 啟用雙探頭狀態

在進行雙晶探頭校準時，需要首先啟用雙探頭狀態：

在收發組內啟用雙探頭狀態。

根據當前的測試任務和所選探頭，設置好聲程和收發組的各種功能。

將探頭與標定試塊耦合，調節基本組中的探頭零點，使標定回波接近期望位置，同時確保二次回波在顯示范圍內可見。

▍ 調整聲速與探頭零點

接下來，通過調整聲速值和探頭零點，以確保準確測量：

在閘門組內打開雙閘門模式。

選擇前沿測量方式。

移動閘門A的起點與一次回波相交，但不得與二次回波相交。

同樣地，移動閘門B的起點與二次回波相交，并保證不與一次回波相交。

調整閘門高度，使其位于兩個校準回波前沿的同一位置。

改變聲速值，直至顯示出的標定試塊厚度與實際相符。

將閘門邏輯設置為單閘門方式，此時聲程測量的是一次回波處的聲程。

最后，調節探頭零點，使狀態行的聲程測量值與試塊的已知厚度相一致。

四、斜探頭校準

▍ 校準入射點

斜探頭校準的步驟與雙晶探頭相似，但需要特別關注探頭的入射點和聲波的傳播路徑。首先，使用IIW試塊或CSK-IA試塊來測定斜探頭的零點：

使用特定試塊確定斜探頭前邊緣位置，保證測量的精確性。

在校準入射點時，使用直尺量出探頭前端面與試塊R100mm弧圓心之間的距離，此距離即為探頭的前沿值。

▍ 校準探頭角度

探頭角度直接影響聲波入射方向，必須準確校準以確保測量精確：

對于用角度值標定的探頭，使用IIW試塊進行校準；而對于用K值標定的探頭，使用CSK-IA試塊。

在試塊上選擇與探頭標稱值相符的標尺，并將探頭放置在試塊上左右移動，使得反射體回波達到最高。

此時，入射點對應的刻度即為探頭的實際角度或K值。

▍ 校準材料聲速與探頭零點

通過標準試塊和小孔校準材料聲速和探頭零點，提升測量準確性：

在找到R100mm的最高反射波后，調整顯示范圍以顯示該弧面的二次回波。

選擇雙閘門方式，并調整A閘門與一次回波相交，B閘門與二次回波相交。

然后，調節聲速值使得狀態行中的聲程測量值(S)為100。此時得到的聲速值即為該材料的實際聲速。

保持上述測量狀態不變，將閘門方式改為正或負，并調節探頭零點使得狀態行中的聲程測量值(S)再次為100。此時得到的探頭零點值即為該探頭的準確零點。

此外，斜探頭的校準并不局限于使用標準試塊。理論可以通過已知深度的小孔來進行校準，但實際操作難度相對較大。