測試背景
某電子產(chǎn)品鋁合金外殼，主要制程為：6系鋁合金擠壓板材→CNC→打磨→噴砂→陽極。部份陽極件表面肉眼可見異色線缺陷，且退鍍后異色線更加明顯。該異色線較細、呈直線或略彎曲狀，大致沿鋁擠方向分布，長短不一分布在整個產(chǎn)品表面。
1、測試項目及測試規(guī)范
2、測試設(shè)備
3、測試環(huán)境
溫度：22.2℃ 相對濕度：54.6%RH
4、樣品照片及缺陷描述
某電子產(chǎn)品鋁合金外殼，主要制程為：6系鋁合金擠壓板材→CNC→打磨→噴砂→陽極。部份陽極件表面肉眼可見異色線缺陷，且退鍍后異色線更加明顯。
該異色線較細、呈直線或略彎曲狀，大致沿鋁擠方向分布，長短不一分布在整個產(chǎn)品表面（見圖1）。
為協(xié)助產(chǎn)線找到造成缺陷之真因，實驗室對客戶提供之NG樣品（已退鍍）及OK樣品（未退鍍）進行了綜合性分析。
圖1樣品及缺陷照片
5、測試結(jié)果分析
5.1 | 化學成分
采用火花原子光譜儀對其基材進行化學成分分析，結(jié)果見表1；NG樣品與OK樣品基材化學成分均為6系鋁合金，兩者差異較小。
表1樣品基材化學成分測試結(jié)果（質(zhì)量百分比，%）
5.2 | NG樣品SEM形貌觀察及EDS成分分析
對退鍍NG樣品缺陷區(qū)域進行SEM觀察及EDS成分分析，結(jié)果見圖2~3及表2，可見：
1.異色線是表現(xiàn)無顆粒物分布的條帶區(qū)域，寬度約為205μm，條帶區(qū)域較為干凈而其兩側(cè)顆粒物較多；
2.EDS成分分析結(jié)果表明這些顆粒物多為AlFeSi顆粒；
3.除AlFeSi顆粒外，異色線區(qū)域與其兩側(cè)區(qū)域化學成分差異較小。
圖2NG樣品表面SEM形貌觀察
圖3NG樣品表面形貌及EDS成分測試位置
表2NG樣品表面EDS成分測試結(jié)果（wt%）
5.3| 樣品拋光態(tài)表面觀察
選取NG樣品的兩個區(qū)域（區(qū)域1、區(qū)域2）及OK樣品的一個區(qū)域，對其進行研磨拋光，采用金相顯微鏡進行觀察，結(jié)果如圖4：
1.研磨拋光后，在NG樣品區(qū)域1和區(qū)域2均可見條帶存在，條帶區(qū)域顆粒物較少，而其兩側(cè)顆粒物較多，條帶寬度與SEM所觀察異色線寬度相符；
2.對于OK樣品，基材中顆粒物亦較多，但其分布均勻，未見明顯條帶存在。
圖4樣品表面拋光態(tài)觀察
5.4 | 樣品表面拋光態(tài)SEM形貌觀察及EDS成分分析
對5.3中所選取區(qū)域進行SEM形貌觀察及EDS成分分析，結(jié)果如圖5及表3，NG與OK樣品拋光后基材中的顆粒物多為AlFeSi顆粒。
圖5樣品表面拋光態(tài)SEM形貌及EDS成分測試位置
表3樣品表面拋光態(tài)EDS成分測試結(jié)果（wt%）
5.5 | 金相組織
對5.3中所選取區(qū)域進行金相腐蝕，金相組織結(jié)果如圖6：
NG樣品基材表面的條帶更加明顯，條帶區(qū)域晶粒內(nèi)部較為干凈，二次相顆粒物較少；
NG樣品與OK樣品基材晶粒大小無明顯差異。
圖6樣品基材金相組織
6、結(jié)論與建議
結(jié)論：
1.退鍍NG樣品表面異色線區(qū)域幾乎無AlFeSi顆粒，該區(qū)域?qū)挾燃s為205μm，其兩側(cè)AlFeSi顆粒物分布較為密集；
2.經(jīng)研磨并拋光后，NG樣品基材表面可見AlFeSi顆粒分布稀少的條帶,其寬度與異色線區(qū)域?qū)挾认喾唤鹣喔g后，拋光態(tài)所見條帶變得更加明顯，NG樣品與OK樣品基材晶粒大小差異較小；推測產(chǎn)品表面異色線缺陷應(yīng)為基材組織異常造成。
3.組織異常區(qū)域顆粒物較少，而其它區(qū)域顆粒物（主要為AlFeSi顆粒）較為密集，基材在酸性或堿性槽液中受腐蝕后，異常區(qū)域更加明顯，陽極后視覺上形成異色線缺陷。
4.在退鍍槽液中，AlFeSi顆粒對于鋁基體為陰極，不會優(yōu)先被腐蝕，因而對于退鍍不良品，可在其表面除異色線以外的區(qū)域觀察到較多AlFeSi顆粒。
建議：
建議原材料供應(yīng)商檢討熔鑄及鋁擠制程，改善原材料組織。
