前言

AEC-Q101-2021標(biāo)準(zhǔn)定義了器件滿足車規(guī)最小應(yīng)力測(cè)試的認(rèn)證要求，并詳細(xì)提供了認(rèn)證的測(cè)試項(xiàng)目和參考測(cè)試條件，目的在于確定器件能夠通過指定的應(yīng)力測(cè)試，其中包括加速應(yīng)力測(cè)試，如HAST/UHAST/AC/H3TRB等。

??一、試驗(yàn)?zāi)康??

HAST（高加速溫度和濕度壓力試驗(yàn)）是為了評(píng)估非密封封裝器件在潮濕環(huán)境中的可靠性。采用惡劣的溫度、濕度和偏置條件，加速水分通過外部保護(hù)材料或沿著外部保護(hù)材料與金屬導(dǎo)體之間的界面滲透，UHAST是不加偏置電壓，以確保能夠發(fā)現(xiàn)可能被偏壓掩蓋的失效機(jī)理（如電偶腐蝕）。

??二、試驗(yàn)條件??

TEST GROUP A – ACCELERATED ENVIRONMENT STRESS   TESTS

注：1.應(yīng)力激發(fā)與“85/85”穩(wěn)態(tài)濕度壽命試驗(yàn)(JESD22-A101)有相同的失效機(jī)理。

2.對(duì)于在24小時(shí)或更短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到吸收平衡的器件，HAST試驗(yàn)相當(dāng)于在85ºC/85%RH下至少達(dá)到1000小時(shí)。

??三、試驗(yàn)設(shè)備??

試驗(yàn)箱能夠連續(xù)保持指定的溫度和相對(duì)濕度或壓力，同時(shí)在指定的偏置下為被測(cè)器件提供電氣連接（如需要），并保存試驗(yàn)周期的相關(guān)曲線記錄，以便驗(yàn)證應(yīng)力條件，試驗(yàn)箱用水應(yīng)使用室溫下最小電阻率為1 MΩ?cm的去離子水。

??四、試驗(yàn)過程通電要求??

UHAST/AC無需加偏壓，HAST/H3TRB需要加偏壓，加偏壓分為持續(xù)加壓和循環(huán)加偏壓。

1.持續(xù)通電加偏壓：如果偏置當(dāng)Tj溫度高于環(huán)境溫度≤10ºC并且器件的散熱小于200 mW時(shí)，采用直流偏置連續(xù)加偏壓

2.循環(huán)加偏壓：對(duì)被測(cè)器件上的直流電壓應(yīng)以適當(dāng)?shù)念l率和占空比循環(huán)施加。如果偏置配置導(dǎo)致Tj溫度高于環(huán)境溫度超過10ºC，采用循環(huán)偏壓，因?yàn)楣牡募訜嵬鶗?huì)使水分減少，從而阻礙與水分相關(guān)的失效機(jī)制。對(duì)于大多數(shù)塑料封裝的微電路，用50%的占空比循環(huán)DUT偏置是最佳的。≥2 mm厚的封裝的循環(huán)應(yīng)力周期應(yīng)為≤2小時(shí)，<2 mm厚的封裝應(yīng)為≤30分鐘。推薦1小時(shí)通和1小時(shí)斷的循環(huán)偏置。

??五、升降溫注意事項(xiàng)??

1.H3TRB上升達(dá)到穩(wěn)定的溫度和相對(duì)濕度條件的時(shí)間應(yīng)小于3小時(shí)，應(yīng)確保設(shè)備溫度始終高于露點(diǎn)溫度，始終避免在應(yīng)力下器件表面上發(fā)生冷凝。試驗(yàn)完成下降到常溫過程應(yīng)少于3小時(shí)，并確保在應(yīng)力下器件表面上不發(fā)生冷凝。

2.HAST/UHAST/AC在上升的第一部分降至輕微正壓（濕球溫度約為104ºC）應(yīng)足夠長(zhǎng)但應(yīng)少于3小時(shí)，從104ºC的濕球溫度排空后再降至常溫?zé)o時(shí)間限制。通過確保試驗(yàn)箱（干球）溫度始終超過濕球溫度，應(yīng)在升降溫過程中確保器件不會(huì)產(chǎn)生冷凝。

??六、功能檢查??

試驗(yàn)前后都要檢測(cè)外觀和電氣參數(shù)，電氣測(cè)試應(yīng)在恢復(fù)常溫后的48小時(shí)內(nèi)進(jìn)行。對(duì)于試驗(yàn)中間要檢查電氣參數(shù)，應(yīng)在恢復(fù)常溫后盡快測(cè)試，然后再放入箱內(nèi)試驗(yàn)，最長(zhǎng)不的超過96小時(shí)。