您當(dāng)前的位置:檢測資訊 > 科研開發(fā)
嘉峪檢測網(wǎng) 2021-02-10 12:39
位錯對材料性能非常重要。本文提出一種特制的掃描電子顯微鏡裝置,對雙層石墨烯中的位錯成像,并同時在納米尺度原位操縱位錯,可以直接揭示線張力、位錯相互作用、節(jié)點(diǎn)形成等位錯的基本特性。
晶體固體的拓?fù)淙毕菔俏锢韺W(xué)和材料科學(xué)的基礎(chǔ)研究,因?yàn)樗鼈兛梢詮母旧细淖儙缀跞魏尾牧系男再|(zhì)。尤其重要的是線缺陷(也稱為位錯),對材料塑性有重要作用,也對電子和光學(xué)性能有巨大的影響。
自20世紀(jì)30年代發(fā)現(xiàn)這些缺陷以來,理解和控制這些缺陷的發(fā)生和行為,一直是人們關(guān)注的焦點(diǎn)。隨著二維材料的出現(xiàn),人們又重新燃起了這種興趣。在二維材料中,一個單一的拓?fù)淙毕菥涂梢愿淖冋麄€系統(tǒng)的功能,甚至產(chǎn)生新的物理現(xiàn)象。
來自德國弗里德里希-亞歷山大大學(xué)的Erdmann Spiecker等研究者,提出了一種利用特制的掃描電子顯微鏡裝置,可以實(shí)現(xiàn)在納米尺度上直接操縱位錯的方法。相關(guān)論文以題為“In situ manipulation and switching of dislocations in bilayer graphene”發(fā)表在Science Advances上。
論文鏈接:
https://advances.sciencemag.org/content/4/8/eaat4712.full
晶體中的拓?fù)渚€缺陷稱為位錯,是材料科學(xué)研究中最基本和最吸引人的現(xiàn)象之一。它們不僅是塑性的主要載體,而且對材料的電學(xué)和光學(xué)性能有很大的影響。在二維材料時代,位錯決定物理性質(zhì)的能力變得更加重要,因?yàn)橐粋€單一的缺陷可能會改變整個材料的行為。例如,在含有面內(nèi)位錯的最薄材料雙層石墨烯中,這些缺陷可以充當(dāng)谷極化的輸運(yùn)通道,反射等離子體激元,并誘導(dǎo)線性磁阻。
在這里,研究者報(bào)道了通過原位掃描電子顯微鏡(SEM)直接操縱獨(dú)立雙層石墨烯中的單個位錯,可以揭示基本位錯現(xiàn)象如線張力、位錯相互作用和節(jié)點(diǎn)形成等。此外,平面外位錯還具有作為平面內(nèi)位錯錨點(diǎn)和交換位點(diǎn)的獨(dú)特能力。
由于該儀器腔室大,允許同時成像和使用微操作器。圖1C顯示了SEM腔內(nèi)的一般設(shè)置:低能量(500V至30 kV)電子探針在樣品上掃描,與石墨烯的相互作用導(dǎo)致含有形貌信息的二次電子發(fā)射,而透射的電子攜帶著晶體學(xué)的信息,并通過它攜帶著形貌學(xué)的信息。
圖1 位錯操縱概述
研究者通過進(jìn)一步研究,平面外位錯陣列的位錯構(gòu)型(見圖2A),發(fā)現(xiàn)了一種切換機(jī)制。在每個面外位錯上,有兩個面內(nèi)位錯,其中一個主要為螺型,另一個主要為線型。圖2B顯示了以線厚度表示的位錯的交替特性。在雙層石墨烯的第一層,存在完美型的平面外位錯。圖2(D到G)顯示了一個現(xiàn)場操作實(shí)驗(yàn)的畫面,其中觀察到了轉(zhuǎn)換相互作用。這種轉(zhuǎn)換,是基于位錯在面外位錯處的位錯線的重組,使不同疊加的空間受限區(qū)域能夠連接和分離。
首先,面內(nèi)位錯C和D附著在II上。在操作開始時,第一次切換相互作用被誘導(dǎo),導(dǎo)致A和D附著在II上,而C現(xiàn)在附著在I上(見圖2E)。通過進(jìn)一步移動機(jī)械手(圖2F),產(chǎn)生了額外的轉(zhuǎn)換相互作用:現(xiàn)在,A和B附著在II上,而C和D附著在I上。E被II局部吸引,從位錯線靠近面外位錯的彎曲可以看出,形成了能量上有利的亞穩(wěn)交點(diǎn)。機(jī)械手的移動,進(jìn)一步誘導(dǎo)了涉及到這個交點(diǎn)的位錯線的重新排列:E在II到III之間的跨段與A的整個長度重新組合,形成一個新的位錯線附著在III上。E的其余部分現(xiàn)在只固定在II上。IV沒有表現(xiàn)出任何轉(zhuǎn)換行為,因?yàn)闄C(jī)械手僅僅輕微地影響附著在其上的面內(nèi)位錯(G和H),也展示了如何局部控制這些相互作用的發(fā)生。
圖2 位錯陣列被固定在平面外位錯上的轉(zhuǎn)換相互作用。
圖3 一個具有潛在功能性質(zhì)和開關(guān)過程的拓?fù)溟_關(guān)的原理圖表示。
綜上所述,研究者利用一種新的方法來對獨(dú)立雙層石墨烯中的位錯成像,并同時在納米尺度上操縱它們,包括拓?fù)淙毕莸幕咎匦裕缇€張力、位錯相互作用和節(jié)點(diǎn)形成,都可以在原位直接揭示。此外,還發(fā)現(xiàn)了可移動的面內(nèi)位錯與固定的面外位錯之間的相互作用,從而改變了具有相同堆垛順序(AB或AC)的雙層石墨烯區(qū)域的互連性。在這些發(fā)現(xiàn)的基礎(chǔ)上,研究者提出了具有預(yù)期功能特性的可逆“拓?fù)溟_關(guān)”的布局。
來源:材料科學(xué)與工程