一、 探頭前沿長度的測量。

將探頭放置在CSK-IA試塊上，將入射點對準R100處，找出反射波達到最高時探頭到R100端部的距離。

然后用其所長100減去此段距離。

此時所得的數據就是探頭的前沿距離。按此方法連測三次，求出平均值。

二、測量探頭的K值 

利用 CSK-IA試塊上的φ50孔的反射角測出并用反三角函數計算出K值。 

將探頭對準試塊上φ50橫孔，找到最高回波：則有K=tg，β=（L+l-35）/30。

三、掃描速度的調節

1、水平調節法

將探頭對準 R50、R100，調節儀器使 B1、B2分別對準不平刻度，此時計算出l1 、l2。 

將計算出的數據在示波屏上將B1和B2調至相對應的位置，此時水平距離掃描速度為1：1。

2、深度調節法 

利用 CSK-ⅠA 試塊調節，先計算 R50、R100 圓弧反射波 B1、B2 對 應的縱深 d1、d2：

然后調節儀器使 B1、B2 分別對準水平刻度值 d1、d2。如K=2時，經計算d1=22.4mm、d2=44.8mm。

調節儀器使B1、B2分別對準22.4和平共處 44.8，這時深度1：1就調節好了。

四、距離--波幅曲線的繪制

1、將探頭置于CSK-ⅢA試塊上，衰減48dB，調增益使深度為10mm的φ1×6孔的最高回波達基準60%，記錄此時的衰減器讀數和孔深，然后分別探測其它不同深度的φ1×6孔，增益不 動，調節衰減器將各孔的最高回波調至60%高，記下相應的dB值和孔深填入表中。

2、以孔深為橫坐標，以分貝值為縱坐標，在坐標紙上描點繪出定 量線、判廢線和評定線，標出Ⅰ區、Ⅱ區、Ⅲ區，并注明所用探頭的頻率、晶片尺寸和K值。 

3、現以T=30mm舉例說明：

五、 調節探傷靈敏度 

調節探傷靈敏度時，探傷靈敏度不得低于評定線，一般以2倍的壁厚處所對應的評定線dB 值，也就是說在工件60mm處評定線所對應的分貝值。

如若還要考慮耦合補償，補償根據實際 情況而定。

六、探測鋼板 

1、初掃，找缺陷，懷疑處作好標記。 

2、細探，對可疑處進行仔細掃查。

去偽存真，對真缺陷測最大值，一、二次波都要測一下，另一側也要測一下，然后作比較，取當量最大者。 

4、缺陷的定位 

（1）按水平調節掃描速度時一次波探傷時，缺陷在工件中的水平距離lf和深度df為：

 lf=nτf df= nτf/K  

n-掃描比例 τf-實際探傷水平刻度值 K=探頭的 

K值二次波探傷時，缺陷在工件中的水平距離lf 和深度df 為：

lf=n τf df=2T- nτf/K  

（2）按深度調節掃描速度時

一次波探傷時，缺陷在工件中的水平距離lf和深度df為：

lf=Kn τf   df= nτf  

二次波探傷時，缺陷在工件中的水平距離lf和深度df為：

lf=Kn τf   df= 2T-nτf  

5、根據最大值，結合dB--距離曲線判定缺陷所處的區域，記錄成φ1×6±X型式。 

6、根據6dB法測出缺陷的長度。

7、對Ⅱ區和Ⅲ區的缺陷測定其長度和大小，并對照JB/T4730-2005評定級別。

注意：內容涉及標準可能存在廢止的情況，請實際操作中勿采用，本文僅提供相關知識參考思路！