篩分法是顆粒粒度測定方法中歷史最長、最通行的一種方法。具體操作是將顆粒樣品通過一系列具有不同篩孔直徑的標準篩（即篩系），分離成若干個粒級，再分別稱重，然后求得以質量分數表示的顆粒粒度分布。

篩分法的優點是原理簡單、直觀，操作方便，易于實現。缺點是測量精度不高，測量過程中容易破壞粒徑分布，影響了測量結果。

顯微鏡法的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸到計算機中，由計算機對這些圖像進行邊緣識別等處理，計算出每個顆粒的投影面積，根據等效投影面積原理得出每個顆粒的粒徑，再統計出所設定的粒徑區間的顆粒的數量，就可以得到粒度分布了。

顯微鏡法的優點是減少了人為觀測誤差，提高了測試速度。缺點是制樣要求高、操作復雜，設備昂貴。

沉降法的基本原理是根據不同粒徑的顆粒在液體中的沉降速度不同來測量粒度分布。具體操作是把樣品放到某種液體中制成一定濃度的懸浮液，懸浮液中的顆粒在重力或離心力作用下發生沉降。

在液體中大顆粒沉降速度快，小顆粒沉降速度慢。沉降速度與粒徑的數量關系：

②比爾定律

通過測量不同時刻的光強得到光強的變化率，可以求得粒度分布。

電阻法是根據顆粒在通過一個小微孔的瞬間，占據了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導電液體，使小微孔兩端的電阻發生變化的原理測試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當不同大小的粒徑顆粒連續通過小微孔時，小微孔的兩端將連續產生不同大小的電阻信號，通過計算機對這些電阻信號進行處理就可以得到粒度分布了。

光阻法（Light Blockage），又稱為光障礙法或光遮擋法，是利用微粒對光的遮擋所發生的光強度變化進行微粒粒徑檢測的方法，檢測范圍從1μm到2.5mm。

激光法是根據激光照射到顆粒后，顆粒能使激光產生衍射或散射的現象來測試粒度分布的。由激光器的發生的激光，經擴束后成為一束直徑為10mm左右的平行光。在沒有顆粒的情況下該平行光通過富氏透鏡后匯聚到后焦平面上。當通過適當的方式將一定量的顆粒均勻地放置到平行光束中時，平行光將發生散現象。一部分光將與光軸成一定角度向外傳播。理論和實驗證明：大顆粒引發的散射光的角度小，顆粒越小，散光與軸之間的角度就越大。以此來計算粒度分布。

除此以外還有其他的測量方法，但以上方法是比較常用的。如今顆粒測試已經被廣泛應用于各行各業和多學科中，包括材料、能源、環境、化工、醫藥、農業、生物到生命科學等領域，已形成一個跨學科的交叉性很強的技術，備受國內外科技界和產業界所關注和重視。