HALT是高加速壽命試驗(yàn)，又稱(chēng)為可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)（RET）,在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，通過(guò)系統(tǒng)地施加逐步增大的環(huán)境應(yīng)力和工作應(yīng)力，激發(fā)和暴露產(chǎn)品設(shè)計(jì)中的薄弱環(huán)節(jié)，找到產(chǎn)品的工作極限和破壞極限，通過(guò)對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中出現(xiàn)的故障進(jìn)行定位分析和失效進(jìn)行機(jī)理分析，不斷改進(jìn)設(shè)計(jì)和工藝，提升產(chǎn)品耐環(huán)境能力和健壯性，提高產(chǎn)品成熟度和可靠性，縮短產(chǎn)品研發(fā)周期和加快產(chǎn)品上市。HALT方法是為了提高產(chǎn)品的可靠性，而并非為了評(píng)估產(chǎn)品的可靠性。

1. HALT原理

每個(gè)產(chǎn)品都是獨(dú)立的，由于各種因素的影響，即使同一型號(hào)產(chǎn)品的強(qiáng)度也是有差異的，其強(qiáng)度表現(xiàn)為某種統(tǒng)計(jì)分布。同樣產(chǎn)品其承受的應(yīng)力也是變化的，應(yīng)力也表現(xiàn)為某種統(tǒng)計(jì)分布。在產(chǎn)品強(qiáng)度與應(yīng)力重疊的部分（圖中陰影部分），即對(duì)產(chǎn)品施加的應(yīng)力超過(guò)產(chǎn)品的強(qiáng)度，產(chǎn)品就會(huì)發(fā)生故障。

為了降低產(chǎn)品在使用過(guò)程中的失效率，可以通過(guò)提高產(chǎn)品的強(qiáng)度，使產(chǎn)品具有充裕的強(qiáng)度余量，進(jìn)而提升產(chǎn)品現(xiàn)場(chǎng)使用的可靠性，如圖4所示。

2. HALT試驗(yàn)流程

3.試驗(yàn)應(yīng)力

試驗(yàn)前的準(zhǔn)備工作以及五個(gè)試驗(yàn)項(xiàng)目的詳細(xì)實(shí)施方法在此不做詳細(xì)介紹，可參考GB/T 29309-2012 《電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則》進(jìn)行試驗(yàn)。

HALT試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品施加的應(yīng)力主要是溫度和振動(dòng)應(yīng)力，也可考慮施加濕度等常見(jiàn)環(huán)境應(yīng)力。除此之外，還要考慮在HALT期間可以向產(chǎn)品施加的所有可能的應(yīng)力，比如可以考慮通電循環(huán)、電壓變化、頻率變化、電流等可以激發(fā)產(chǎn)品相關(guān)設(shè)計(jì)或工藝問(wèn)題的應(yīng)力。

4.故障分析

（1）當(dāng)確認(rèn)發(fā)生故障時(shí)，應(yīng)立即停止試驗(yàn)，現(xiàn)場(chǎng)人員應(yīng)詳細(xì)記錄故障現(xiàn)象、發(fā)現(xiàn)時(shí)機(jī)、試驗(yàn)應(yīng)力等情況；

（2）故障發(fā)生后，注意保護(hù)故障現(xiàn)場(chǎng)，進(jìn)行故障定位。故障定位后應(yīng)盡量利用試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)條件驗(yàn)證定位的正確性；

（3）故障分析清楚并準(zhǔn)確定位后，應(yīng)進(jìn)行故障機(jī)理分析。若確認(rèn)故障是由元器件引起的，應(yīng)進(jìn)行元器件失效分析；

根據(jù)故障機(jī)理分析結(jié)果和產(chǎn)品實(shí)際情況，確定是否對(duì)已定位的故障采取糾正措施。決定是否采取糾正措施，主要由費(fèi)用、時(shí)間、風(fēng)險(xiǎn)等因素決定