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機(jī)構(gòu)所在地：北京市
檢測(cè)項(xiàng)：漏－源擊穿電壓 檢測(cè)樣品：晶閘管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997 方法3407
機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市
檢測(cè)項(xiàng)：漏源極截止電流IDSS 檢測(cè)樣品：晶體振蕩器 標(biāo)準(zhǔn)：《晶體振蕩器總規(guī)范》GJB 1648-1993
檢測(cè)項(xiàng)：靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻rDS 檢測(cè)樣品：晶體振蕩器 標(biāo)準(zhǔn)：《晶體振蕩器總規(guī)范》GJB 1648-1993
檢測(cè)項(xiàng)：漏源擊穿電壓V（BR）DSS 檢測(cè)樣品：晶體振蕩器 標(biāo)準(zhǔn)：《晶體振蕩器總規(guī)范》GJB 1648-1993
機(jī)構(gòu)所在地：貴州省貴陽(yáng)市
檢測(cè)項(xiàng)：噪聲等效溫差 檢測(cè)樣品：紅外溫差源 標(biāo)準(zhǔn)：熱像儀定型試驗(yàn)規(guī)范 GJB3476－98
機(jī)構(gòu)所在地：北京市
機(jī)構(gòu)所在地：上海市
檢測(cè)項(xiàng)：γ射線漏射線檢測(cè) 檢測(cè)樣品： 標(biāo)準(zhǔn)：含密封源儀表的放射衛(wèi)生防護(hù)要求GBZ 125—2009
檢測(cè)項(xiàng)：γ射線漏射線檢測(cè) 檢測(cè)樣品： 標(biāo)準(zhǔn)：X射線衍射儀和熒光分析儀防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)GBZ 115—2002
機(jī)構(gòu)所在地：廣東省廣州市
檢測(cè)項(xiàng)：漏源通態(tài)電流 檢測(cè)樣品：晶閘管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 第6部分晶閘管 GB/T 15291-1994
檢測(cè)項(xiàng)：漏源通態(tài)電阻 檢測(cè)樣品：晶閘管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 第6部分晶閘管 GB/T 15291-1994
檢測(cè)項(xiàng)：漏源擊穿電壓 檢測(cè)樣品：晶閘管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 第6部分晶閘管 GB/T 15291-1994
機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市
檢測(cè)項(xiàng)：漏點(diǎn) 檢測(cè)樣品：涂層（漆膜） 標(biāo)準(zhǔn)：非腐蝕性氣體輸送用管線管內(nèi)涂層SY/T 6530-2010 附錄C
檢測(cè)項(xiàng)：漏點(diǎn) 檢測(cè)樣品：涂層（漆膜） 標(biāo)準(zhǔn)：壓敏膠粘帶180°剝離強(qiáng)度試驗(yàn)方法GB/T 2792-1998
機(jī)構(gòu)所在地：河北省廊坊市
檢測(cè)項(xiàng)：漏-源通態(tài)電流 檢測(cè)樣品：晶閘管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997 方法3407
檢測(cè)項(xiàng)：漏-源通態(tài)電阻 檢測(cè)樣品：晶閘管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997 方法3407
檢測(cè)項(xiàng)：漏-源通態(tài)電壓 檢測(cè)樣品：晶閘管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997 方法3407
機(jī)構(gòu)所在地：重慶市
機(jī)構(gòu)所在地：河南省洛陽(yáng)市
