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上海精密計(jì)量測(cè)試研究所
上海市
樣品名稱(chēng):半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路
檢測(cè)項(xiàng)目:靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻RDS(on)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GB/T14030-1992 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理
所屬行業(yè)分類(lèi):電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >