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非破壞分析：外觀檢查、成分分析、X射線透視、超聲波掃描、參數(shù)/指標(biāo)測試等；
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檢測項：微觀形貌觀察 檢測樣品：固體材料 標(biāo)準(zhǔn)：掃描電鏡顯微鏡分析方法通則 JY/T 0584-2020
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檢測項：微觀形貌觀察 檢測樣品：固體材料 標(biāo)準(zhǔn)：掃描電鏡顯微鏡分析方法通則 JY/T 0584-2020
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檢測項：能譜分析 檢測樣品：固體材料 標(biāo)準(zhǔn)：黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法 GB/T17362-2008
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檢測項：能譜分析 檢測樣品：固體材料 標(biāo)準(zhǔn)：黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法 GB/T17362-2008
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檢測項：能譜分析 檢測樣品：固體材料 標(biāo)準(zhǔn)：黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法 GB/T17362-2008
檢測機(jī)構(gòu)：中國建筑科學(xué)研究院 更多相關(guān)信息>>
檢測項：微觀形貌觀察 檢測樣品：固體材料 標(biāo)準(zhǔn)：掃描電鏡顯微鏡分析方法通則 JY/T0584-2020
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檢測項：金屬覆蓋層厚度 檢測樣品：金屬材料及制品 標(biāo)準(zhǔn)：金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法 GB/T31563-2015
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檢測項：金屬覆蓋層厚度 檢測樣品：金屬材料及制品 標(biāo)準(zhǔn)：金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法 GB/T31563-2015
檢測機(jī)構(gòu)：醫(yī)藥醫(yī)療器械檢測中心 更多相關(guān)信息>>
檢測項：微區(qū)長度測量 檢測樣品：微區(qū)結(jié)構(gòu)與形貌 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則
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