中國電子科技集團公司第十研究所天奧校準/檢測實驗室

檢測項：正向跨導 檢測樣品：場效應 晶體管 標準：半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997 方法3407

檢測項：正向跨導 檢測樣品：場效應 晶體管 標準：半導體器件 分立器件 第8部分：場效應晶體管GB/T4586-1994第 Ⅳ 章2、3、6、 10、15條

檢測項：正向壓降 檢測樣品：光耦合器 標準：半導體光耦合器（二極管）正向壓降的測試方法 SJ 2215.2-1982

機構所在地：四川省成都市 更多相關信息>>

湖北航天技術研究院計量測試技術研究所

檢測項：正向跨導Gfs 檢測樣品：場效應晶體管 標準：半導體器件分立器件第8部分：場效應晶體管 GB/T 4586-1994 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：晶體管 標準：半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 半導體分立器件和集成電路第7部分：場效應晶體管 GB/T 4587-1994

檢測項：正向電流傳輸比HFE 檢測樣品：晶體管 標準：半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 半導體分立器件和集成電路第7部分：場效應晶體管 GB/T 4587-1994

機構所在地：湖北省孝感市 更多相關信息>>

中國航空無線電電子研究所元器件檢測中心

檢測項：正向跨導 檢測樣品：場效應管 標準：GJB 33A-1997 半導體分立器件總規范 GB/T 4586-1994 半導體器件 分立器件第8部分:場效應晶體管

檢測項：正向跨導 檢測樣品：二極管 標準：GJB 33A-1997 半導體分立器件總規范 GB/T 4023-1997 半導體器件:分立器件和集成電路第2部分:整流二極管 GB/T 6571-1995 半導體器件 分立器件 第3部分：信號（包括開關）和調整二極管

檢測項：輸入二極管正向電壓 檢測樣品：光電耦合器 標準：GJB 33A-1997 半導體分立器件總規范 GB/T 15651-1995 半導體器件分立器件 第5部分 光電子器件

機構所在地：上海市 更多相關信息>>

中國電子科技集團公司第十四研究所檢測/試驗中心

檢測項：小信號短路正向跨導 檢測樣品：場效應晶體管 標準：GB/T4586-1994半導體分立器件分立器件第8部分場效應晶體管

檢測項：正向閾值電壓下的輸入電流 檢測樣品：電壓調整器 標準：GB/T 4377-1996半導體集成電路電壓調整器測試方法的基本原理

檢測項：共發射極正向電流傳輸比 檢測樣品：雙極型晶體管 標準：GB/T4587-1994半導體器件分立器件和集成電路第7部分雙極型晶體管

機構所在地：江蘇省南京市 更多相關信息>>

北京賽迪君信電子產品檢測實驗室有限公司

檢測項：正向跨導gfs 檢測樣品：光耦合器 標準：1.GB/T15651.3-2003半導體分立器件和集成電路第5-3部分：光電子器件測試方法 2.GB12565-1990半導體器件光電子器件分規范

檢測項：正向直流電壓VF 檢測樣品：二極管 標準：1.GB/T 4023-1997半導體器件分立器件和集成電路第2部分：整流二極管； 2.GB/T 6571-1995半導體器件分立器件第3部分：信號（包括開關）和調整二極管；

檢測項：正向柵源漏電流Igssf 檢測樣品：光耦合器 標準：1.GB/T15651.3-2003半導體分立器件和集成電路第5-3部分：光電子器件測試方法 2.GB12565-1990半導體器件光電子器件分規范

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

武漢中原電子集團有限公司計量檢測中心

檢測項：小信號短路正向跨導gfs 檢測樣品：場效應管 標準：半導體器件 分立器件 第8部分：場效應晶體管 GB/T 4586-1994

檢測項：正向閾值電壓下的輸入電流 檢測樣品：TTL電路 標準：半導體集成電路TTL電路 測試方法的基本原理 SJ/T 10735-1996

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：光電耦合器 標準：半導體分立器件和集成電路 第5-2部分：光電子器件 基本額定值和特性 GB/T 15651.2-2003

機構所在地：湖北省武漢市 更多相關信息>>

中國電子科技集團公司第十三研究所檢測中心

檢測項：正向跨導gfs 檢測樣品：場效應晶體管 標準：1、GB/T 4586-1994 半導體器件第8部分：場效應晶體管 2、GB/T 20516-2006 半導體器件 分立器件 第4部分：微波器件

檢測項：正向跨導gfs 檢測樣品：場效應晶體管 標準：1、GB/T 4586-1994 半導體器件第8部分：場效應晶體管 2、GB/T 20516-2006 半導體器件 分立器件 第4部分：微波器件

檢測項：正向電壓VF 檢測樣品：微電路模塊 標準：1、SJ 20668-1998 微電路模塊總規范 2、SJ 20645-1997 微波電路放大器測試方法

機構所在地：河北省石家莊市 更多相關信息>>

中達電子（江蘇）有限公司分析實驗室

檢測項：元器件可焊性測試 檢測樣品：整流二極管 標準：引線、端子、焊片、接線柱和導線的可焊性測試 EIA/IPC/JEDEC J-STD-002D (2013)

檢測項：rDS(on):靜態D-S導通阻抗; 檢測樣品：電子電氣產品 標準：電子電氣產品中限用的六種物質（鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯、多溴聯苯醚）的測定IEC 62321 -2008

檢測項：VF-正向電壓 檢測樣品：整流二極管 標準：半導體器件 分立器件和集成電路 第2部分:整流二極管 IEC 60747-2(第二版 2000-03)

機構所在地： 更多相關信息>>

富士康（昆山）電腦接插件有限公司實驗室

檢測項：正向力 檢測樣品：電子及電氣零組件 標準：電氣連接器正向力測試程序 EIA-364-04A-2002

檢測項：正向力 檢測樣品：電子及電氣零組件 標準：汽車電氣連接器系統性能規范 SAE/USCAR-2-2007 section5.7.1

機構所在地：江蘇省昆山市 更多相關信息>>

富港電子（東莞）有限公司Foxlink實驗室

檢測項：正向力 檢測樣品：連接器產品 標準：EIA-364-04A：2009 電子連接器正向力測試

檢測項：正向力 檢測樣品：連接器產品 標準：電子連接器正向力測試 EIA-364-04A：2002(R2009)

機構所在地：廣東省東莞市 更多相關信息>>