上海市安全生產科學研究所特種電器檢測站

檢測項：快速瞬變(脈沖群)共模** 檢測樣品： 標準：

機構所在地：上海市 更多相關信息>>

中國測試技術研究院

檢測項：電子單元輸入共模抑制比 檢測樣品：熔點儀 標準：《熔點測定儀》 JB/T 6177-1992

檢測項：電子單元輸入共模抑制比 檢測樣品：熔點儀 標準：《熔點測定儀》 JB/T 6177-1992

檢測項：全項目 檢測樣品：邵氏硬度計 標準：GB/T531.1-2008硫化橡膠或熱塑性橡膠 壓入硬度試驗方法 第1部分：邵氏硬度計法

機構所在地：四川省成都市 更多相關信息>>

上海華嶺集成電路技術股份有限公司檢測中心

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：時基電路 標準：半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

檢測項：最大共模輸入電壓 檢測樣品：時基電路 標準：半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：CMOS集成電路 標準：半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000

機構所在地：上海市 更多相關信息>>

云南昆船電子設備有限公司藍海綜合實驗中心

檢測項：輸出共模 抑制比 檢測樣品：TTL電路 標準：SJ/T 10735-1996 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理

機構所在地：云南省昆明市 更多相關信息>>

北京新世紀檢驗認證有限公司

檢測項：電信端口的傳導共模騷擾 檢測樣品：信息技術設備（EMC） 標準：信息技術設備抗擾度限值和測量方法 GB/T 17618-1998 CISPR 24:2010 EN 55024:2010

檢測項：射頻共模 檢測樣品：居住、商業和輕工業環境中產品 標準：電磁兼容 通用標準 居住、商業和輕工業環境中的抗擾度試驗 GB/T 17799.1-1999 IEC 61000-6-1: 2005 EN61000-6-1：2007

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

北京交通大學電磁兼容實驗室

檢測項：電信端口的傳導共模騷擾限值 檢測樣品：工業、科學設備 標準：信息技術設備的無線電騷擾限值和測量方法 GB 9254-2008 / CISPR 22：2006

機構所在地：北京市 更多相關信息>>

中國電子科技集團公司第十四研究所檢測/試驗中心

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：電壓比較器 標準：SJ/T10805-2000半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：運算放大器 標準：SJ/T10738-1996半導體集成電路運算（電壓）放大器測試方法的基本原理

檢測項：共發射極正向電流傳輸比 檢測樣品：雙極型晶體管 標準：GB/T4587-1994半導體器件分立器件和集成電路第7部分雙極型晶體管

機構所在地：江蘇省南京市 更多相關信息>>

西南計算機有限責任公司檢測計量與軟件測評中心

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：電壓比較器 標準：半導體集成電路電壓比較器 測試方法的基本原理 GB/T6798-1996

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：電壓比較器 標準：半導體集成電路電壓比較器 測試方法的基本原理 GB/T6798-1996

機構所在地：重慶市 更多相關信息>>

國營長風機器廠環境試驗檢測計量中心

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：數字集成 電路 標準：半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/10741-2000

檢測項：共發射正向電流傳輸比 檢測樣品：雙極型 晶體管 標準：半導體器件分立器第7部分雙極型晶體管 GB/T4587-1994

機構所在地：甘肅省蘭州市 更多相關信息>>

上海無線電設備研究所環境與檢測實驗室

檢測項：共模抑制比 檢測樣品：模擬集成電路 標準：《半導體集成電路總規范》GJB597A-1996

機構所在地：上海市 更多相關信息>>