您當前的位置:首頁 > 共模輸入電壓范圍
針入度(Needlepenetration) 針入度是以標準針在一定的荷重、時間及溫度條件下垂直穿入瀝青試樣的深度來表示,單位為1/10mm。非經另行規定,標準針、針連桿與附加砝碼的合重為100±0.1g,溫度25℃,時間為5s。針入度愈大表示愈軟,即稠度愈小;反之則表示愈硬,即稠度愈大。 針入度 測試儀器:針入度電腦式、針入...查看詳情>>
針入度(Needlepenetration)
針入度是以標準針在一定的荷重、時間及溫度條件下垂直穿入瀝青試樣的深度來表示,單位為1/10mm。非經另行規定,標準針、針連桿與附加砝碼的合重為100±0.1g,溫度25℃,時間為5s。針入度愈大表示愈軟,即稠度愈小;反之則表示愈硬,即稠度愈大。
針入度測試儀器:針入度電腦式、針入度數顯式
收起百科↑ 最近更新:2017年03月21日
檢測項:電信端口的傳導共模騷擾 檢測樣品:信息技術設備(EMC) 標準:信息技術設備抗擾度限值和測量方法 GB/T 17618-1998 CISPR 24:2010 EN 55024:2010
機構所在地:北京市
檢測項:電信端口的傳導共模騷擾限值 檢測樣品:工業、科學設備 標準:信息技術設備的無線電騷擾限值和測量方法 GB 9254-2008 / CISPR 22:2006
機構所在地:北京市
檢測項:共模抑制比 檢測樣品:電壓比較器 標準:半導體集成電路電壓比較器 測試方法的基本原理 GB/T6798-1996
檢測項:共模抑制比 檢測樣品:電壓比較器 標準:半導體集成電路電壓比較器 測試方法的基本原理 GB/T6798-1996
機構所在地:重慶市
檢測項:共模抑制比 檢測樣品:數字集成 電路 標準:半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/10741-2000
檢測項:共發射正向電流傳輸比 檢測樣品:雙極型 晶體管 標準:半導體器件分立器第7部分雙極型晶體管 GB/T4587-1994
機構所在地:甘肅省蘭州市