樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器

檢測(cè)項(xiàng)目：輸入高電平電流IIH

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 第2節(jié)第2條

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器 輸入高電平電流IIH 半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 第2節(jié)第2條