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樣品名稱:半導體集成電路MOS隨機存儲器
檢測項目:輸入高電平電流IIH
認可資質(zhì):其它
檢測標準:半導體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇2節(jié)2 方法38
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導體集成電路MOS隨機存儲器 輸入高電平電流IIH 半導體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇2節(jié)2 方法38
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