樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲器

檢測項目：輸出高阻態(tài)時高電平電流 IOZH

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲器測試方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 2.4

服務(wù)地點：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲器 輸出高阻態(tài)時高電平電流 IOZH 《半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲器測試方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 2.4