樣品名稱：半導(dǎo)體器件

檢測(cè)項(xiàng)目：鍵合強(qiáng)度（破壞性鍵合線拉力試驗(yàn)）

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件的機(jī)械試驗(yàn)方法 第2部分：方法2001 至2999 MIL-STD-750-2B:2022 方法2037.1

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體器件 鍵合強(qiáng)度（破壞性鍵合線拉力試驗(yàn)） 半導(dǎo)體器件的機(jī)械試驗(yàn)方法 第2部分：方法2001 至2999 MIL-STD-750-2B:2022 方法2037.1