國(guó)家電子電器產(chǎn)品檢測(cè)中心
劉工
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樣品名稱：集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目：鍵合強(qiáng)度（破壞性鍵合拉力）
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005
服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 集成電路 鍵合強(qiáng)度（破壞性鍵合拉力） 微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005
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