樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器

檢測項(xiàng)目：鍵合強(qiáng)度(破壞性鍵合拉力試驗(yàn)）

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548C-2021 2011.2

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器 鍵合強(qiáng)度(破壞性鍵合拉力試驗(yàn)） 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548C-2021 2011.2