樣品名稱：光學(xué)和光學(xué)儀器

檢測項(xiàng)目：低溫/低氣壓

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn) GB/T 12085.5-2010 4.2

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 光學(xué)和光學(xué)儀器 低溫/低氣壓 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn) GB/T 12085.5-2010 4.2