樣品名稱：光學(xué)和光學(xué)儀器

檢測項(xiàng)目：碰撞/低溫

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn) GB/T 12085.13-2010 4.5

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 光學(xué)和光學(xué)儀器 碰撞/低溫 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn) GB/T 12085.13-2010 4.5