樣品名稱：光學(xué)和光學(xué)儀器

檢測(cè)項(xiàng)目：振動(dòng)（正弦）/低溫

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第10部分：振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn) GB/T 12085.10-2010 4.3

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 光學(xué)和光學(xué)儀器 振動(dòng)（正弦）/低溫 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第10部分：振動(dòng)（正弦）與高溫、低溫綜合試驗(yàn) GB/T 12085.10-2010 4.3