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芯片失效模式與測試方法培訓PPT(31頁)
主要內容
芯片測試的意義
晶圓片上的污染
黑盒測試
故障模型
硬橋接故障
參數(shù)故障(弱橋接)
晶體管故障
組合電路的測試模板
時序電路
掃描路徑
測試能力設計(DFT,design for testability)
邊界掃描
TAP控制器
IDDQ測試
芯片可靠性
芯片 芯片失效 芯片故障 芯片測試
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