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中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所檢測(cè)中心
江蘇省無(wú)錫市
樣品名稱(chēng)：半導(dǎo)體 集成電路外殼
檢測(cè)項(xiàng)目：鍵合強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路外殼總規(guī)范 GJB1420A-1999 半導(dǎo)體集成電路外殼通用規(guī)范 GJB1420B-2011
所屬行業(yè)分類(lèi)：
標(biāo)簽： 鍵合強(qiáng)度 半導(dǎo)體 集成電路外殼
