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中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所檢測(cè)中心
江蘇省無錫市
樣品名稱：半導(dǎo)體 集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目：25℃下的 開關(guān)試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-883G-2006
所屬行業(yè)分類：
標(biāo)簽： 25℃下的 開關(guān)試驗(yàn) 半導(dǎo)體 集成電路
