半導(dǎo)體 集成電路中25℃下的 功能試驗檢測

• 樣品名稱：半導(dǎo)體 集成電路

• 檢測項目：25℃下的 功能試驗

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗方法和程序 GJB548A-1996　 微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005　 微電子器件試驗方法標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-883G-2006

• 所屬行業(yè)分類：

• 標(biāo)簽： 25℃下的 功能試驗 半導(dǎo)體 集成電路