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檢測(cè)項(xiàng)：部分項(xiàng)目 檢測(cè)樣品：餐具 標(biāo)準(zhǔn)：非金屬手柄餐桌餐具的規(guī)格 BS 5577:1999
檢測(cè)項(xiàng)：部分項(xiàng)目 檢測(cè)樣品：蠟燭及蠟燭臺(tái) 標(biāo)準(zhǔn)：個(gè)人眼鏡 - 太陽(yáng)鏡和一般用作過(guò)濾太陽(yáng)光的濾鏡 BS EN 1836-2005+A1:2007
檢測(cè)項(xiàng)：部分項(xiàng)目 檢測(cè)樣品：餐具 標(biāo)準(zhǔn)：與食品接觸的物料和用品- 餐具和器皿 第一部份:餐具的要求EN ISO 8442-1:1997 + A1:1999
機(jī)構(gòu)所在地： 更多相關(guān)信息>>
檢測(cè)項(xiàng)：VGS(off): 柵-源截止電壓/VGS(th):閾值電壓 檢測(cè)樣品：電子電氣產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：電子電氣產(chǎn)品中限用的六種物質(zhì)（鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚）的測(cè)定IEC 62321 -2008
檢測(cè)項(xiàng)：VFM: 正向峰值電壓 檢測(cè)樣品：雙極型晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)
檢測(cè)項(xiàng)：V(BR)DS*:崩潰電壓 檢測(cè)樣品：場(chǎng)效應(yīng)晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管IEC 60747-8(第三版 2010-12)
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