整流二極管中正向直流電壓的檢測

檢測項：正向直流電壓 檢測樣品：整流二極管 標準：GB/T4023-2015/7.1.2 半導體器件 分立器件和集成電路第2部分：整流二極管

檢測機構：國家電子電器產品檢測中心 更多相關信息>>

氧化鋁陶瓷中抗熱震性的檢測

檢測項：抗熱震性 檢測樣品：氧化鋁陶瓷 標準：GB/T14619-2013 厚膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片

檢測機構：國家材料分析檢測中心 更多相關信息>>

模擬集成電路中失調電流Ios的檢測

檢測項：失調電流Ios 檢測樣品：模擬集成電路 標準：《半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理》 GB/T6798-1996 《半導體集成電路運算（電壓）放大器測試方法的基本原理》 GB3442-1986

檢測機構：國家機械電子產品環境與可靠性質量監督檢驗中心 更多相關信息>>

半導體集成電路中內部目檢的檢測

檢測項：內部目檢 檢測樣品：半導體集成電路 標準：合格制造廠認證用半導體集成電路通用規范GJB7400-2011

檢測機構：中國航天科技集團公司檢測中心 更多相關信息>>

上海華嶺集成電路技術股份有限公司檢測中心

檢測項：啟動過沖 檢測樣品：CMOS集成電路 標準：半導體器件 集成電路 第2部分：數字集成電路 GB/T 17574-1998

檢測項：啟動延遲 檢測樣品：CMOS集成電路 標準：半導體器件 集成電路 第2部分：數字集成電路 GB/T 17574-1998

檢測項：開關頻率 檢測樣品：CMOS集成電路 標準：半導體器件 集成電路 第2部分：數字集成電路 GB/T 17574-1998

機構所在地：上海市 更多相關信息>>

中國航空無線電電子研究所元器件檢測中心

檢測項：輸出短路電流 檢測樣品：模擬集成電路 標準：GJB 597A-1996 半導體集成電路總規范 GB/T 17940-2000 半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 6798-1996 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半導體集成電路電壓

檢測項：靜態電源電流 檢測樣品：模擬集成電路 標準：GJB 597A-1996 半導體集成電路總規范 GB/T 17940-2000 半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 6798-1996 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半導體集成電路電壓

檢測項：輸入箝位電壓 檢測樣品：模擬集成電路 標準：GJB 597A-1996 半導體集成電路總規范 GB/T 17940-2000 半導體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 6798-1996 半導體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半導體集成電路電壓

機構所在地：上海市 更多相關信息>>

中國電子科技集團公司第十三研究所檢測中心

檢測項：輸出電壓溫度系數ST 檢測樣品：半導體集成電路 （數字集成電路） 標準：GB/T 17574-1998 半導體器件 集成電路 第2部分：數字集成電路 第Ⅳ篇

檢測項：輸出噪聲電壓SNO 檢測樣品：半導體集成電路 （數字集成電路） 標準：GB/T 17574-1998 半導體器件 集成電路 第2部分：數字集成電路 第Ⅳ篇

檢測項：短路電流IOS 檢測樣品：半導體集成電路 （數字集成電路） 標準：GB/T 17574-1998 半導體器件 集成電路 第2部分：數字集成電路 第Ⅳ篇

機構所在地：河北省石家莊市 更多相關信息>>

陜西省電子技術研究所電子元器件檢測篩選中心

檢測項：基準電壓 （VREF） 檢測樣品：半導體集成電路數字集成電路 標準：半導體器件 集成電路第2部分：數字集成電路 GB/T17574-1998

檢測項：功能測試 檢測樣品：半導體集成電路數字集成電路 標準：半導體器件 集成電路第2部分：數字集成電路 GB/T17574-1998

檢測項：輸出高電平電壓（VOH） 檢測樣品：半導體集成電路數字集成電路 標準：半導體器件 集成電路第2部分：數字集成電路 GB/T17574-1998

機構所在地：陜西省西安市 更多相關信息>>

中國電子科技集團公司第二十四研究所質檢中心

檢測項：復位電流 檢測樣品：混合集成電路 標準：膜集成電路和混合膜集成電路 總規范 GB/T8976-1996

檢測項：觸發電壓 檢測樣品：混合集成電路 標準：膜集成電路和混合膜集成電路 總規范 GB/T8976-1996

檢測項：觸發電流 檢測樣品：混合集成電路 標準：膜集成電路和混合膜集成電路 總規范 GB/T8976-1996

機構所在地：重慶市 更多相關信息>>

中國空空導彈研究院元器件檢測中心

檢測項：輸入低電平電壓VIL 檢測樣品：數字集成電路 標準：GB/T 17574-1998半導體器件集成電路 第2部分 數字集成電路

檢測項：輸入鉗位電壓VIK 檢測樣品：數字集成電路 標準：GB/T 17574-1998半導體器件集成電路 第2部分 數字集成電路

檢測項：輸入正向閾值電壓VIT+ 檢測樣品：數字集成電路 標準：GB/T 17574-1998半導體器件集成電路 第2部分 數字集成電路

機構所在地：河南省洛陽市 更多相關信息>>