中成藥中汞含量的檢測(cè)

檢測(cè)項(xiàng)：汞含量 檢測(cè)樣品：中成藥 標(biāo)準(zhǔn)：香港《中成藥注冊(cè)》安全性資料技術(shù)指引2004年版 附錄（一） 附錄（一）重金屬及有毒元素測(cè)試 技術(shù)指引

檢測(cè)機(jī)構(gòu)：醫(yī)療器械檢測(cè)研究院 更多相關(guān)信息>>

中成藥中汞含量的檢測(cè)

檢測(cè)項(xiàng)：汞含量 檢測(cè)樣品：中成藥 標(biāo)準(zhǔn)：香港《中成藥注冊(cè)》安全性資料技術(shù)指引2004年版 附錄（一） 附錄（一）重金屬及有毒元素測(cè)試 技術(shù)指引

檢測(cè)機(jī)構(gòu)：醫(yī)藥醫(yī)療器械檢測(cè)中心 更多相關(guān)信息>>

防靜電椅中電阻值的檢測(cè)

檢測(cè)項(xiàng)：電阻值 檢測(cè)樣品：防靜電椅 標(biāo)準(zhǔn)：ANSI/ESDSTM12.1-2019 座椅-電阻測(cè)量

檢測(cè)機(jī)構(gòu)：國家電子電器產(chǎn)品檢測(cè)中心 更多相關(guān)信息>>

防靜電椅中電阻值的檢測(cè)

檢測(cè)項(xiàng)：電阻值 檢測(cè)樣品：防靜電椅 標(biāo)準(zhǔn)：座椅- 電阻測(cè)量 ANSI/ESD STM12.1-2006

檢測(cè)機(jī)構(gòu)：中國航天科技集團(tuán)公司檢測(cè)中心 更多相關(guān)信息>>

名碩電腦（蘇州）有限公司技術(shù)服務(wù)部

檢測(cè)項(xiàng)：鄰苯二甲酸酯 檢測(cè)樣品：電子電工產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：索氏萃取法　　　　　　　　　　　　　　　　　　 US EPA 354

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省蘇州市 更多相關(guān)信息>>

佛山市南海美泰精密壓鑄有限公司PI實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：撓曲測(cè)試 檢測(cè)樣品：玩具 標(biāo)準(zhǔn)：美國玩具安全標(biāo)準(zhǔn) ASTM F963-11 條款 8.12

檢測(cè)項(xiàng)：供8歲以下兒童使用的玩具或其他物品的銳利尖端測(cè)試技術(shù)要求 檢測(cè)樣品：玩具 標(biāo)準(zhǔn)：聯(lián)邦危險(xiǎn)物質(zhì)法 16 CFR條款1500.48

檢測(cè)項(xiàng)：供8歲以下兒童使用的玩具或其他用品的金屬玻璃銳利邊緣測(cè)試技術(shù)要求 檢測(cè)樣品：玩具 標(biāo)準(zhǔn)：聯(lián)邦危險(xiǎn)物質(zhì)法 16 CFR條款1500.49

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省佛山市 更多相關(guān)信息>>

天祥公證行有限公司玩具、食品及雜貨部

檢測(cè)項(xiàng)：可溶性鉛和鎘 檢測(cè)樣品：食品接觸材料/陶瓷制品 標(biāo)準(zhǔn)：玻璃凹形器皿-與食物接觸的玻璃凹形器皿制品鉛、鎘溶出量 ISO 7086-1: 2000 第一部:測(cè)試方法 ISO 7086-2: 2000 第二部: 允許極限

檢測(cè)項(xiàng)：可溶性鉛和鎘 檢測(cè)樣品：食品接觸材料/陶瓷制品 標(biāo)準(zhǔn)：陶瓷制廚房用具-與食物接觸的瓷制廚房用具鉛、鎘溶出量 ISO 8391-1: 1986 第一部:測(cè)試方法 ISO 8391-2: 1986 第二部: 允許極限

檢測(cè)項(xiàng)：可溶性鉛和鎘 檢測(cè)樣品：食品接觸材料/陶瓷制品 標(biāo)準(zhǔn)：玻璃 及琺瑯質(zhì)瓷 -與食物接觸的琺瑯質(zhì)瓷制品鉛、鎘溶出量 ISO 4531-1: 1998 第一部:測(cè)試方法 ISO 4531-2:1998 第二部: 允許極限

機(jī)構(gòu)所在地： 更多相關(guān)信息>>

香港通用檢測(cè)認(rèn)證有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：特定元素遷移(Pb, Sb, Cr, Hg, As, Ba, Se, Cd) 檢測(cè)樣品：玩具 標(biāo)準(zhǔn)：兒童三輪車安全要求 GB 14747-2006, 測(cè)試方法: GB 6675-2003 C.1

檢測(cè)項(xiàng)：特定元素遷移(Pb, Sb, Cr, Hg, As, Ba, Se, Cd) 檢測(cè)樣品：玩具 標(biāo)準(zhǔn)：嬰兒學(xué)步車安全要求 GB 14749-2006 , 測(cè)試方法: GB 6675-2003 C.1

機(jī)構(gòu)所在地： 更多相關(guān)信息>>

中達(dá)電子（江蘇）有限公司分析實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：元器件可焊性測(cè)試 檢測(cè)樣品：整流二極管 標(biāo)準(zhǔn)：引線、端子、焊片、接線柱和導(dǎo)線的可焊性測(cè)試 EIA/IPC/JEDEC J-STD-002D (2013)

檢測(cè)項(xiàng)：VGS(off): 柵-源截止電壓/VGS(th):閾值電壓 檢測(cè)樣品：電子電氣產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：電子電氣產(chǎn)品中限用的六種物質(zhì)（鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚）的測(cè)定IEC 62321 -2008

檢測(cè)項(xiàng)：VFM: 正向峰值電壓 檢測(cè)樣品：雙極型晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

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香港科技園公司無線通訊測(cè)試中心

檢測(cè)項(xiàng)：一般測(cè)試 檢測(cè)樣品：WCDMA 移動(dòng)臺(tái) 標(biāo)準(zhǔn)：只測(cè) Band I, II, III, V and VI WCDMA 終端 不測(cè)HSUPA， 6.2.1.7及 6.2.1.8

檢測(cè)項(xiàng)：一般測(cè)試 檢測(cè)樣品：WCDMA 移動(dòng)臺(tái) 標(biāo)準(zhǔn)：只測(cè) Band I, II, III, V and VI WCDMA 終端 不測(cè)振動(dòng)條件下的射頻參數(shù) 不測(cè)輻射條件下的射頻測(cè)試 不測(cè)測(cè)試項(xiàng)5.13.2, 7.6.3, 7.7.3, 7.11, 及 7.12

檢測(cè)項(xiàng)：一般測(cè)試 檢測(cè)樣品：GSM 移動(dòng)臺(tái) 標(biāo)準(zhǔn)：GPRS不測(cè)Extended Dynamic Allocation 和測(cè)試項(xiàng)20.22.5, 41.1.5.3, 20.22.17, 20.22.8, 20.22.9.1, 20.22.9.2, 44.2.8.1.2, 47.1.1, 47.1.2, 47

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