樣品名稱：現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)

檢測項目：輸入高電平電流和輸入低電平電流

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：SJT11706-2018 半導(dǎo)體集成電路 現(xiàn)場可編程門陣列測試方法

服務(wù)地點：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA) 輸入高電平電流和輸入低電平電流 SJT11706-2018 半導(dǎo)體集成電路 現(xiàn)場可編程門陣列測試方法