樣品名稱：現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)

檢測(cè)項(xiàng)目：輸出高電平電壓

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：SJT11706-2018 半導(dǎo)體集成電路 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列測(cè)試方法

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA) 輸出高電平電壓 SJT11706-2018 半導(dǎo)體集成電路 現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列測(cè)試方法