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樣品名稱：半導(dǎo)體器件
檢測(cè)項(xiàng)目：漏源/集射間反向擊穿電壓
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 3407
服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 半導(dǎo)體器件 漏源/集射間反向擊穿電壓 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 3407
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