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樣品名稱:半導體器件
檢測項目:漏源/集射間反向擊穿電壓
認可資質:其它
檢測標準:半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F-2012 3407.1
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導體器件 漏源/集射間反向擊穿電壓 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F-2012 3407.1
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