樣品名稱：半導(dǎo)體器件

檢測項(xiàng)目：高溫阻斷（HTRB）

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第23部分：高溫工作壽命 IEC 60749-23:2004

服務(wù)地點(diǎn)：全國

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體器件 高溫阻斷（HTRB） 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第23部分：高溫工作壽命 IEC 60749-23:2004