樣品名稱(chēng)：半導(dǎo)體分立器件環(huán)境試驗(yàn)

檢測(cè)項(xiàng)目：高溫

認(rèn)可資質(zhì)：CNAS

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》GJB128A-1997方法 1031、1032

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體分立器件環(huán)境試驗(yàn) 高溫 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》GJB128A-1997方法 1031、1032