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樣品名稱:塑封半導體集成電路
檢測項目:聲學掃描顯微鏡檢查
認可資質:其它
檢測標準:專用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 1103/2.4
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 塑封半導體集成電路 聲學掃描顯微鏡檢查 專用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 1103/2.4
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