國家電子電器產(chǎn)品檢測中心
劉工
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樣品名稱：混合集成電路(含多芯片組件)
檢測項(xiàng)目：掃描電子顯微鏡(SEM)檢查
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548C-2021 方法 2018.2
服務(wù)地點(diǎn)：全國
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 混合集成電路(含多芯片組件) 掃描電子顯微鏡(SEM)檢查 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548C-2021 方法 2018.2
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