國(guó)家電子電器產(chǎn)品檢測(cè)中心
劉工
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第三方商業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)
嘉峪客服中心：400-818-0021
樣品名稱(chēng)：密封半導(dǎo)體集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目：掃描電子顯微鏡（SEM）檢查
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：專(zhuān)用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 1101/2.9
服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 密封半導(dǎo)體集成電路 掃描電子顯微鏡（SEM）檢查 專(zhuān)用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 1101/2.9