樣品名稱：面向端側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片
檢測項目：全部參數(shù)
認(rèn)可資質(zhì)：其它
檢測標(biāo)準(zhǔn)：《人工智能芯片 面向端側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片測試指標(biāo)與測試方法》 T/CESA 1121-2020
服務(wù)地點：全國
適用范圍：電子電氣
標(biāo)簽： 面向端側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片 全部參數(shù) 《人工智能芯片 面向端側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片測試指標(biāo)與測試方法》 T/CESA 1121-2020